電力線路中絕緣子表面積聚的污穢物可分為可溶解污物和不可溶解污物即惰性污物?？扇芙馕畚镉玫戎蹈禁}密度( ESDD) 表征, 已廣泛應(yīng)用于污穢試驗(yàn)、污穢閃絡(luò)機(jī)理分析和電力系統(tǒng)污穢等級(jí)劃分等研究中; 不可溶解污物用灰密(NSDD) 表征。

在鹽密度ρESDD 一定的情況下, 染污絕緣子串污閃電壓Uf隨著灰密度ρNSDD 的增加而不斷減小的原因是: 污層中的不溶污物雖本身不導(dǎo)電, 但它保持的水份卻可以溶解電解質(zhì), 增大導(dǎo)電率。同時(shí)隨著附著在絕緣子表面的不溶物的增加, 絕緣子表面所吸收的水分就越多, 形成了更厚的水膜, 降低染污絕緣子表面電阻, 導(dǎo)致泄漏電流增大。

通過大量數(shù)據(jù)分析結(jié)果表明, 染污絕緣子串污閃電壓Uf 與鹽密度ρESDD、灰密度ρNSDD 之間呈三維曲面關(guān)系, 隨著ρESDD和ρNSDD 的增加, Uf 逐漸下降; 在ρESDD、ρNSDD較小時(shí)Uf 下降較快, 隨著ρESDD 和ρNSDD 的增加, Uf 下降趨勢(shì)變緩, 這與分別考慮ρESDD 及ρNSDD 作用時(shí), 對(duì)Uf 的影響是類似的。

總體來看灰密度和鹽密度均對(duì)絕緣子污閃電壓有影響。以XP - 160 瓷絕緣子為例，灰密影響特征指數(shù)為0. 14 , 鹽密影響特征指數(shù)為0. 24 , 鹽密影響是灰密影響的1. 71 倍, 即鹽密影響大于灰密影響。

ρNSDD 與污閃電壓Uf 的關(guān)系在等值鹽密度ρESDD 分別為0. 026 mg/ cm2、0. 068 mg/ cm2及0. 14 mg/ cm2 時(shí)試驗(yàn)研究了XP - 160 懸式瓷絕緣子污閃電壓Uf 隨灰密度ρNSDD 變化的關(guān)系, 試驗(yàn)結(jié)果如表3 , 試驗(yàn)得到的Uf 標(biāo)準(zhǔn)偏差在7 %之內(nèi)。對(duì)表3 的試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行曲線擬合, 可得到同一ρESDD下Uf 與ρNSDD 的關(guān)系, 如圖3 所示。

由表3 可知, 不同ρESDD 下7 片串人工污穢絕緣子串的Uf 均隨著ρNSDD 增加而下降; 并且ρNSDD 較小時(shí), 隨ρNSDD 的增加Uf 下降較快, 隨著ρNSDD 的繼續(xù)增加, Uf 下降趨勢(shì)變緩, 這種趨勢(shì)與絕緣子串閃絡(luò)電壓和ρESDD 之間的關(guān)系一致。