inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測(cè)試
觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于半導(dǎo)體芯片一種, 廣泛應(yīng)用于如消費(fèi)類電子, 家用電器, 車載觸摸屏, 移動(dòng)終端, 智能電網(wǎng), 物聯(lián)網(wǎng)等多個(gè)領(lǐng)域. 觸控芯片的關(guān)鍵性能指標(biāo), 除響應(yīng)速度, 抗電磁干擾, 防水等要求外, 芯片工作溫度也要求非常高.
上海伯東美國(guó) inTEST 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測(cè)試解決方案
某觸控芯片企業(yè), 其產(chǎn)品已在全球十多億臺(tái)智能設(shè)備上運(yùn)行, 廣泛應(yīng)用于手機(jī), 平板電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等產(chǎn)品. 一直采用上海伯東美國(guó) inTEST ATS-710E-M 熱流儀與其測(cè)試機(jī)搭配, 為分析觸摸屏控制芯片, 觸摸板控制芯片, MCU 觸摸按鍵等產(chǎn)品的特性提供快速精準(zhǔn)的外部溫度環(huán)境, 實(shí)現(xiàn)測(cè)試芯片性能的要求.
inTEST 熱流儀滿足觸控芯片的三項(xiàng)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):
一. 基本性能測(cè)試: 溫度范圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環(huán)測(cè)試
二. 特殊功能測(cè)試（非標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試）: 搭配測(cè)試機(jī)共同使用, 通過軟件控制機(jī)臺(tái), 通常設(shè)定3個(gè)溫度點(diǎn), 高溫（80℃或 120℃）, 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結(jié)合測(cè)試機(jī)測(cè)參數(shù), 測(cè)試時(shí)間可幾秒鐘, 幾十分鐘, 甚至幾個(gè)小時(shí).
三. 可靠性測(cè)試
上海伯東美國(guó) inTEST ThermoStream 熱流儀是為觸摸屏芯片提供低溫或高溫環(huán)境來進(jìn)行可靠性測(cè)試的專用儀器, 因?yàn)槠淠茉诙虝r(shí)間內(nèi)迅速改變溫度而被廣泛應(yīng)用于芯片測(cè)試中, 能夠模擬觀察芯片在惡劣環(huán)境下的性能是否能維持正常水平. 測(cè)試系統(tǒng)在工作過程中, 會(huì)依據(jù)設(shè)定的溫度, 使系統(tǒng)通過特定的運(yùn)算得出結(jié)果并去控制加熱器來達(dá)到調(diào)節(jié)溫度的目的.
 

inTEST 熱流儀功能特點(diǎn)

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